Präsentation von Forschungsergebnissen auf der Konferenz ESSCIRC 2014 in Venedig. Foto: IMMS.
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Invasive Analysis Framework for non-functional Effect Verification

Georg Gläser1. Martin Grabmann1. Dirk Nuernbergk2.

IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Special Session: From Constraints to Tape-Out: Towards a Continuous AMS Design Flow, 24 - 26 April 2019 Cluj-Napoca, Romania.

1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. 2Melexis GmbH, Erfurt, Germany.