Charakterisierung von neuen optoelektronischen Sensoren im Waferverbund. Foto: IMMS.
Charakterisierung von neuen optoelektronischen Sensoren im Waferverbund. Foto: IMMS.

Presseinformationen

Schnelles Nachweissystem für Multiresistenzen bei Tuberkuloseinfektionen

Acht Partner aus Forschung und Industrie starten BMBF-Projekt FluoResYstmehr »

Von einem der weltweit ersten USB-Hubs zur KI

Video 25 Jahre IMMS – Transfers aus der Grundlagenforschung in die Industrie mehr »

Jahresbericht 2020 online

Hier gibt es die Themenvorschau und den gesamten Bericht mit Verweisen auf Hintergrundinfos,…mehr »

25 Jahre IMMS – Wir bedanken uns herzlich für die Glückwünsche!

In VIDEO- und TEXT-BOTSCHAFTEN illustrieren unserer Partner und Förderer mit vielen Beispielen, wie…mehr »

EDA Competition Award für „Trash or Treasure“ – Intelligente Layoutverarbeitung

1. Preis des IEEE CEDA geht an Nachwuchswissenschaftler von TU Ilmenau und IMMSmehr »

Internationale Konferenzen zu Methoden für den Entwurf integrierter Schaltungen

Wissenschaftlicher Nachwuchs aus der Elektrotechnik besucht Erfurt virtuellmehr »

Dr.-Ing. Christoph Schäffel (* 25. Juli 1961, † 16. Mai 2021)

Wir sind über seinen plötzlichen Tod erschüttert und sehr traurig.mehr »

Elektronischer Knowhow-Schutz für innovative Sensorsysteme

iC-Haus, IMMS und Wachendorff starten BMBF-Verbundprojekt VE-ARiSmehr »

Thüringer Projekt entwickelt neuartige Technologieplattform zum Nachweis von SARS-CoV-2

Änderung der elektrischen Leitfähigkeit macht Virusmaterial sichtbarmehr »

Hochgenau und batteriefrei per RFID messen

IMMS-Doktorand verteidigt Dissertation zu präziser passiver RFID-Sensorikmehr »

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