
TuZ 2019
24.02.2019 – 26.02.20191st lecture, Session 2: Zuverlässigkeit und Teststabilität
Monday, February 25, 2019, 13:30 - 15:00
Messverfahren zur HF-Charakterisierung des Crosstalks verschiedener Halbleitertechnologien
Authors:
1Björn Bieske, 2Dagmar Kirsten, 3Michael Ott, 3Michael Frey1IMMS GmbH, Ilmenau, 2X-Fab GmbH, Erfurt, 3Melexis GmbH, Erfurt
2nd lecture, Session 4: Mixed-Signal Test und Machine Learning
Tuesday, February 26, 2019, 10:30 Uhr - 12:00 Uhr
Messumgebung zur dynamischen Charakterisierung des Leistungsverbrauchs von Ultra-Low-Power Schaltungen
Authors:
Marco Reinhard, Alexander Rolapp, Benjamin Saft, Michael Meister