HF-Charakterisierung bis 50 GHz
Die Untersuchungen umfassen :
- S-Parameter-Messungen 50 MHz ... 50 GHz
- Messung der Rausch-Parameter 0,3 GHz ... 26 GHz
- DC Messungen 0,1 pA ... 1A,0,1 mV ...200V
- Koaxiale Messungen (N, SMA, 3.5mm, 2.92mm / K, 2.4mm)
- Testfassung für Koplanar- und Mikrostreifenleitungen verfügbar
On-Wafer-Messtechnik :
- Semiautomatischer 8" Waferprober PA 200 von Süss Microtec mit Probeschield© und Thermochuck ( -60°C .. 200°C)
- Manueller 6" Waferprober SUMMIT 9000 von CASCADE
- HF-Messspitzen für Wafermessung in GSG-Konfiguration ( 50 .. 200µ Pitch )
- HF-Labor in geschirmter Messzelle
Messung der DC- und S-Parameter am Beispiel eines n-Kanal HF CMOS-Transistors
- Ausgangskennlinienfeld Id(Vgs,Vds)
- S-Parameter S11, S22 (Vgs) Deembedded
